消費性IC/中低階MCU成長可期 惠瑞捷瞄準低成本SoC測試市場

作者: 王智弘
2009 年 08 月 05 日
為因應消費性IC與中低階微控制器(MCU)平均產品銷售價格快速下滑的趨勢,自動化測試設備(ATE)供應商已先後推出低成本SoC測試機台,以協助晶片業者進一步降低測試成本。
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